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Métodos topográficos : topografía y fotogrametría


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kartoniert
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Juli 1996

Beschreibung

Beschreibung

Se ocupa de los Métodos Topográficos, tanto en Altimetría como en Planimetría, que conducen a la obtención del apoyo fotogramétrico o levantamiento directo de un plano de cualquier extensión, precisión y escala. Aplicando la Teoría de Errores desarrollada en el Tomo 1, se va formando ordenadamente un cuerpo de doctrina topográfica en las sucesivas cuestiones de observación, cálculo y compensación rigurosa.
EAN: 9788428323093
ISBN: 8428323097
Untertitel: Sprache: Spanisch.
Verlag: Ediciones Paraninfo. S.A.
Erscheinungsdatum: Juli 1996
Seitenanzahl: 760 Seiten
Format: kartoniert
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