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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices


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gebunden
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August 1997

Beschreibung

Beschreibung

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.

Inhaltsverzeichnis

Aus dem Inhalt: Introduction. Reliability Mathematics. Principles Failure Mechanisms. Failure Mechanisms in Technologies and Circuits. Reliability Testing. Reliability Prediction. Screening. Failure Analysis. Quality Assurance.
EAN: 9780471954828
ISBN: 0471954829
Untertitel: Revised. Sprache: Englisch.
Verlag: JOHN WILEY & SONS INC
Erscheinungsdatum: August 1997
Seitenanzahl: 358 Seiten
Format: gebunden
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